[Oral Presentation]基于DEM-FEM耦合的辊压工艺颗粒致密化过程模拟及集流体接触损伤行为研究

基于DEM-FEM耦合的辊压工艺颗粒致密化过程模拟及集流体接触损伤行为研究
ID:67 Submission ID:196 View Protection:ATTENDEE Updated Time:2024-04-09 22:34:44 Hits:901 Oral Presentation

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Abstract
辊压作为锂离子电池制造过程中的重要步骤,会对极片微结构产生显著影响。在辊压过程中,活性颗粒会逐渐致密,并压入金属箔中进而损坏集流体。在此,我们研究了辊压后活性层微结构的演化、集流体表面形态和拉伸性能的变化。通过结合压缩试验、拉伸实验和模拟,建立了不同压力下极片孔隙率的预测模型,揭示了压缩力导致集流体拉伸强度降低的破坏机制。具体而言,提出了离散元法(DEM)与有限元法(FEM)相结合的 DEM-FEM 耦合方法,以表征活性颗粒压入后集流体的力学行为。研究结果表明,颗粒的力学特性与几何分布会显著影响辊压过程,并且随着压缩力的增加,集流体更容易发生断裂。本项研究工作可以为电极的制造及优化提供指导。
 
Keywords
锂离子电池,辊压,离散元,有限元,孔隙率,损伤
Speaker
宋严杰
北京理工大学

Submission Author
宋严杰 北京理工大学
贺春旺 北京理工大学
陈浩森 北京理工大学
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